סוגי מיקרוסקופים ויישומים
① מיקרוסקופ אופטי גיאומטרי: כולל מיקרוסקופ ביולוגי, מיקרוסקופ אפי-אור, מיקרוסקופ הפוך, מיקרוסקופ מטאלוגרפי, מיקרוסקופ שדה אפל
מיקרוסקופ וכו'.
② מיקרוסקופ אופטי פיזי: כולל מיקרוסקופ ניגודיות פאזה, מיקרוסקופ אור מקוטב, מיקרוסקופ הפרעות, מיקרוסקופ אור מקוטב ניגודיות פאזה, ניגודיות פאזה
מיקרוסקופ הפרעות, מיקרוסקופ פלואורסצנטי ניגודיות פאזה וכו'.
③ מיקרוסקופ המרת מידע: כולל מיקרוסקופ פלואורסצנטי, מיקרוספקטרופוטומטר, מיקרוסקופ ניתוח תמונה, מיקרוסקופ אקוסטי,
מיקרוסקופ פאזה, מיקרוסקופ טלוויזיה וכו'.
ציין מספר שימושים במיקרוסקופים:
מיקרוסקופ ביולוגי: באופן כללי ניתן לחלק מיקרוסקופים לשתי קטגוריות: מיקרוסקופים סטריאו ומיקרוסקופים ביולוגיים. בשל שימושים שונים ודרישות שונות, יוצרו סניפים רבים, אך העיקרון הבסיסי עדיין זהה. קיטוב, ניגודיות פאזה, שידור ואפימטריה וכו' עדיין שייכים למיקרוסקופים ביולוגיים.
b מיקרוסקופ סטריאו: ידוע גם כמיקרוסקופ לנתח, מיקרוסקופ מוצק ומיקרוסקופ סטריאו, זהו מיקרוסקופ עם שימושים רבים. הוא קל לתפעול, אין לו דרישות גבוהות לדגימות, יש לו מרחק עבודה ארוך, ויש לו תחושה חזקה של תלת מימד בעת התבוננות. הוא יכול לצפות בחפצים אמיתיים, ויכול גם לבצע כמה פעולות על דגימות תוך כדי התבוננות. במקום לחתוך דגימות כמו מיקרוסקופים ביולוגיים, החיתוך דורש טכניקות וציוד מקבילים. לכן, מיקרוסקופים סטריאו נמצאים בשימוש נרחב בתחומי מיקרואלקטרוניקה, הרכבה ותחזוקה של מכשור מדויק ומיקרו-גילוף. הוא נמצא בשימוש נרחב בפעולות אנטומיות ומיקרוכירורגיה (המסווג כיום כמיקרוסקופים הפעלה) בתחומי הביולוגיה והרפואה. מקור האור המשמש בתחומי הביולוגיה והרפואה יכול להשתמש רק במקורות אור קרים (סיבים אופטיים); הוא משמש בתעשיות עבור חלקים זעירים ותצפית מעגלים משולבים, הרכבה, בדיקה ועבודות אחרות.
ג מיקרוסקופ מטאלוגרפי: אנשים רבים אוהבים לכתוב אותו כ"מיקרוסקופ מתכתי". מיקרוסקופ מטאלוגרפי הוא מיקרוסקופ המשמש במיוחד כדי לצפות במבנה המטאלוגרפי של עצמים אטומים כגון מתכות ומינרלים. לא ניתן לצפות בחפצים אטומים אלו במיקרוסקופי שידור רגילים, ולכן ההבדל העיקרי בין מיקרוסקופים פאזה למיקרוסקופים רגילים הוא שהראשון מואר באור מוחזר, בעוד שהאחרון מואר באור משודר. במיקרוסקופ המטאלוגרפי, קרן ההארה מצולמת מכיוון עדשת האובייקטיב אל פני האובייקט הנצפה, משתקפת על ידי פני האובייקט ולאחר מכן מוחזרת לעדשת האובייקטיבית לצורך הדמיה. שיטת תאורה מוחזרת זו נמצאת בשימוש נרחב גם בזיהוי פרוסות סיליקון במעגלים משולבים.
