שימוש במולטימטר למדידת שבבי זיכרון
ישנם 64 פיני נתונים (D0-D63) בין הלוח הראשי למודול הזיכרון. כדי להגן על פיני נתוני זיכרון אלה, כל אחד מ-64 פיני הנתונים D0-D63 מצויד בנגד בעל ערך קטן (10 Ω) למטרות הגבלת זרם. עקרון העבודה העיקרי של בודק ייעודי הוא בדיקה חוזרת של כל פין סיביות נתונים של שבב הזיכרון באמצעות תוכנית, בדיקת תקלות או תנאי קצר חשמלי בפיני סיביות נתונים, כמו גם פיני השעון ופיני הכתובות של השבב.
לכן, בעת בדיקת שבבים עם מולטימטר, אתה יכול לאמץ שיטה הנגזרת מהבודק הייעודי. חבר את הגשש האדום לאדמה (פין 1), והשתמש בבדיקה השחורה כדי למדוד את ההתנגדות של כל נגד בסדרה. ערך ההתנגדות שהתקבל תואם לזה של סיבית הנתונים של שבב הזיכרון, שבאמצעותו ניתן לזהות את השבב הפגום. כל התנגדויות סיביות הנתונים צריכות להיות זהות בתנאים רגילים. שיטה זו פחות אינטואיטיבית מאשר שימוש בבוחן ייעודי, אך ניתן להשתמש בה כדי לשפוט אם שבבי זיכרון DDR טובים או פגומים.
על פי מדריך ההפעלה, מיקומי בדיקת זיכרון המסומנים 2A ו-2B מייצגים תצורות של בנק בודד ו-Dual-Bank בהתאמה. שמונה שבבים של 16 סיביות שווים לשני בנקים; באופן דומה, שישה עשר שבבים של 8 סיביות מהווים גם שני בנקים.
2A מייצג את הבנק הראשון ו-2B עבור הבנק השני.
במהלך המדידה, הבוחן עובר על כל פין נתונים של כל שבב בתוך כל בנק. שבב נחשב כטוב אם הוא עובר 3-5 מחזורי בדיקה חוזרים. שבבים טובים מסומנים ב-"PASS", בעוד שבבים פגומים יציגו את מספר ה-PIN הפגום של סיביות הנתונים.
אם הבוחן לא מצליח להיכנס לשגרת הבדיקה לאחר ההפעלה, סיבות נפוצות כוללות שבבים קצרים או עקבות PCB קצרים. כדי לפתור בעיות, הסר את הלחמה של השבב והרכיב אותו על PCB ידוע כטוב כדי לוודא אם השבב עצמו פגום.
בודק הזיכרון אינו בודק את שבב SPD; שבב SPD הוא אופציונלי.
לא ניתן לבצע בדיקה אם אצבעות הזהב שרופות. יש להסיר את השבבים ולהתקין אותם על כרטיס PCB ידוע כטוב עבור תקלות
