ההבדל בין מיקרוסקופיה קונפוקלית בלייזר למיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת
גם מיקרוסקופיה קונפוקלית בלייזר וגם מיקרוסקופ אלקטרונים סורק הם הדמיית סריקת מקור נקודתית, אשר מתאימה את ההגדלה על ידי שליטה בטווח הנסיעה של הסריקה. מיקרוסקופיה קונפוקלית בלייזר פועלת באמצעות סריקת לייזר ויכולה לקבל תמונות תלת מימדיות. מיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת משתמשת באותות פיזיקליים שונים הנרגשים על ידי אלומת אלקטרונים ממוקדת עדינה בעת סריקת פני השטח של דגימה כדי לווסת הדמיה. זה יכול להשיג רק תמונות דו מימדיות, לא תמונות תלת מימדיות.
1. רזולוציות מגבלה שונות (מקורות אות מוגברים שונים)
קונפוקאלי לייזר: רזולוציה אולטימטיבית של 150 ננומטר
מיקרוסקופ אלקטרונים סורק: 20nm~0.8nm
2. שיטות נהיגה סריקה שונות
קונפוקל לייזר: מראה מסתובבת בלייזר שולטת בטווח סריקת הלייזר ובמהירות הסריקה
מיקרוסקופ אלקטרוני סורק: סליל אלקטרומגנטי שולט בטווח הסריקה ובמהירות הסריקה של קרן האלקטרונים
3. הדמיה סטריאוסקופית שונה
קונפוקל לייזר: המדגם מונע על ידי מנוע צעד ננו דיוק לתמונה שכבה אחר שכבה בכיוון ציר Z, והתוכנה מסנתזת את התמונות המוגדרות של כל שכבה לתמונות סטריאוסקופיות תלת מימדיות ברורות
מיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת: לתמונת מסגרת בודדת יש עומק שדה גדול והיא שייכת לתמונה דו מימדית
4. טווחי יישום שונים
קונפוקל לייזר: כמה עד כמה אלפי פעמים
מיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת: כמה פעמים עד כמה מאות אלפי פעמים
5. סביבות עבודה שונות
לייזר confocal: מסוגל לבדוק דגימות בסביבות אטמוספריות
מיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת: בדיקת דגימות בסביבת ואקום גבוה
