ההבדל בין מיקרוסקופ כוח אטומי למיקרוסקופ אופטי ומיקרוסקופ אלקטרונים
ההבדל העיקרי בין AFM לטכנולוגיות מתחרות כמו מיקרוסקופיה אופטית ואלקטרונים הוא ש-AFM אינו משתמש בעדשות או באלומות אור. לפיכך, הוא אינו מוגבל ברזולוציה מרחבית עקב עקיפה וסטיות, ואינו מצריך הכנת מקום לכיוון הקרן (על ידי יצירת ואקום) וצביעה של המדגם.
ישנם מספר סוגים של מיקרוסקופים סורקים, לרבות מיקרוסקופ בדיקה סריקה (כולל AFM, מיקרוסקופיה מנהור סריקה (STM) ומיקרוסקופיה אופטית סורקת שדה קרוב (SNOM/NSOM), מיקרוסקופיה STED (STED), וכן מיקרוסקופיה אלקטרונית סורקת ואטומית אלקטרוכימית. מיקרוסקופ כוח EC -AFM). למרות ש-SNOM ו-STED מאירים דגימות באור גלוי, אינפרא אדום ואפילו טרה-הרץ, הרזולוציה שלהן אינה מוגבלת על ידי מגבלת העקיפה.
