בדיקת זרם דליפה של קבלים עם טווח מתח מודד
טווח מתח ה-DC של מולטימטר דיגיטלי משמש לא רק למדידת מתח, אלא גם לאיתור קבלים. מדידת קיבול באמצעות טווח מתח היא למעשה שיטת מדידה עקיפה, שיכולה למדוד קבלים בקיבולת קטנה הנעה בין 220pF ל-1 μF ולמדוד במדויק את זרם הזליגה של הקבל.
1. שיטות ועקרונות מדידה. מעגל המדידה מוצג באיור 1, כאשר E הוא סוללה יבשה חיצונית של 1.5V. הגדר את המולטימטר הדיגיטלי למתח DC של 2V, חבר את הגשש האדום לאלקטרודה אחת של הקבל שנבדק Cx, וחברו את הגשושית השחורה למסוף השלילי של הסוללה. התנגדות הכניסה Ri עבור ציוד 2V היא 10M Ω. מכיוון שהמתח על פני Ri הוא מתח הכניסה של המכשיר VIN, Ri למעשה משמש גם כנגד דגימה. אם זרם הזליגה של הקבל הנמדד הוא ID והערך היציב שמוצג על ידי המכשיר הוא VC (יחידה: V), אז
להלן דוגמה להמחשה:
דוגמה 1: הקבל שנבדק הוא קבל קבוע עם קיבול של 1 μ F/160V. השתמש במולטימטר הדיגיטלי DT930FD עם טווח 2V/DC (=10M Ω) כדי לחבר את המעגל לפי איור 1. בהתחלה, המכשיר הציג 1.521V, ולאחר מכן הערך המוצג ירד בהדרגה. לאחר כדקה אחת, הערך המוצג התייצב על 0.0027V. על סמך זה, חושב זרם הזליגה של הקבל שנבדק: זרם הזליגה של הקבל שנבדק היה רק 0.3nA, מה שמצביע על איכות טובה.
דוגמה 2: הקבל שנבדק הוא קבל פוליאסטר בגודל 0.022 μ F/63V, ושיטת המדידה זהה לעיל. בשל הקיבולת הקטנה של הקבל, VIN (t) יורד במהירות במהלך המדידה. לאחר כ-4 שניות, הערך המוצג יורד ל-0.0019V. זרם הדליפה המחושב הוא:
זרם הדליפה קטן מאוד, מה שמעיד על איכות טובה.
2. אמצעי זהירות
(1) לפני המדידה, יש לקצר ולפרוק את שני הפינים של הקבל, אחרת תהליך קריאת השינויים עלול להיות
לא נצפה.
(2) במהלך תהליך המדידה, אל תיגע באלקטרודת הקבל בשתי הידיים כדי למנוע קפיצת מכשירים.
(3) במהלך תהליך המדידה, הערך של VIN (t) משתנה באופן אקספוננציאלי, יורד במהירות בהתחלה ומאט בהדרגה עם הזמן. כאשר הקיבולת של הקבל Cx שנבדק היא פחות מכמה אלפי פיקופאראד, עקב הירידה המהירה ב-VIN (t) בתחילתו וקצב המדידה הנמוך של המכשיר, אין זמן לשקף את ערך המתח ההתחלתי. לכן, הערך הראשוני המוצג של המכשיר נמוך ממתח הסוללה E.
(4) כאשר הקבל הנמדד Cx גדול מ-1 μ F, על מנת לקצר את זמן המדידה, ניתן להשתמש במצב התנגדות למדידה. אך כאשר הקיבולת של הקבל הנבדק נמוכה מ-200pF, קשה לצפות בתהליך הטעינה עקב השינוי הקצר בקריאה.
