פתרון בעיות EMI בתחומי זמן ותדר באמצעות אוסילוסקופים דיגיטליים RTO
אוסילוסקופים דיגיטליים RTO יכולים לעזור למהנדסי פיתוח לנתח בעיות EMI בתחום הזמן והתדר בעת תכנון אלקטרוניקה, ויכולים לסייע באיתור הגורמים ל-EMI. לאוסילוסקופ הדיגיטלי RTO יש רעש קלט נמוך במיוחד, והרגישות שלו יכולה להגיע ל-1mv/div בטווח רוחב הפס המלא של 0-4GHz. ניתן להשתמש ביכולת ניתוח ספקטרום FFT בזמן אמת של RTO עם ניתוח בדיקה קרוב לשדה כדי לאבחן בעיות EMI.
איור: אוסילוסקופ דיגיטלי R&S RTO - FFT בעל רעש נמוך בחזית/ביצועים גבוהים יוצר כלי אבחון EMI רב עוצמה
המפתח לאבחון EMI הוא טכנולוגיית FFT. עם פונקציית FFT של אוסילוסקופים מסורתיים, קשה להגדיר פרמטרים בתחום התדר, וניתוח הספקטרום לוקח זמן רב. מאחר שממשק ההפעלה FFT של אוסילוסקופ R&S RTO מבוסס על מנתח ספקטרום, המשתמשים יכולים להגדיר ישירות פרמטרים, כולל תדר התחלה, תדר חיתוך, רזולוציית רוחב פס וסוג גלאי, בדיוק כמו שימוש בנתח ספקטרום.
טכנולוגיית ה-FFT העוצמתית בשילוב עם עומק הזיכרון הגדול של אוסילוסקופ RTO מאפשרת למשתמשים להגדיר באופן עצמאי פרמטרים של תחום זמן ותחום תדר ולבצע ניתוח גמיש בתחום הזמן ובתחום התדר. תכונות אלו מאפשרות למשתמשים לזהות מקורות של הפרעות מוקרנות במהירות האפשרית.
אוסילוסקופ RTO R&S משתמש ב-Opperlap FFT לניתוח תחום תדרים. טכנולוגיית FFT חופפת יכולה להשיג רגישות גבוהה לקרינה מזויפת וללכוד נקודות תדר מזויפות מדי פעם. האוסילוסקופ מחלק תחילה את אות תחום הזמן שנלכד למספר מקטעי זמן, ולאחר מכן מבצע חישובי FFT כדי לקבל את הספקטרום של כל מקטע זמן, כך שניתן ללכוד אותות מזויפים מזדמנים באנרגיה נמוכה בספקטרום.
לאחר מכן, אותות עם תדרים שונים מסומנים בצבעים שונים, וספקטרום ניתוח ה-FFT של כל פרקי הזמן משולב לספקטרום שלם.
קרינה וקרינה אגבית מסומנים בצבעים שונים. ניתוח ספקטרום באמצעות טכניקות סימון צבע שונות יכול להדגים בצורה מושלמת את הסוג והתדירות של קרינת EMI.
טכנולוגיית Windowed FFT מאפשרת למשתמשים להתאים אישית חלון זמן על האות שנלכד, לבצע ניתוח FFT רק על האות בתוך חלון הזמן, ולנתח את הקשר התואם בין כל אות תחום זמן לבין הספקטרום על ידי החלקת חלון זה. לדוגמה, ניתן להשתמש בטכניקה זו כדי לנתח בעיות EMI הנגרמות על ידי חריגה בטרנזיסטור בהחלפת ספקי כוח. לאחר אישור נקודת הבעיה, המשתמש יכול לאמת במהירות את השפעת התיקון.
כלי תבנית יעילים מאוד גם כאשר מנתחים בעיות קרינה תועה. משתמשים מגדירים תבניות בתחום התדר ומבצעים הגדרות מתאימות עבור האותות המפרים, כך שהם יכולים לקבוע במדויק אילו אותות גורמים להפרות ספקטרום. אפילו עבור אותות שנלכדו, משתמשים יכולים להתאים פרמטרים של FFT, כגון גודל חלון ורזולוציית תדר. פונקציות חזקות כאלה מאפשרות למשתמשים לבצע ניתוח מדוקדק של קרינת EMI שקשה לתפוס.
אוסילוסקופ R&S RTO מציב רף חדש לאוסילוסקופים עם תכונות הרכישה והניתוח העשירות שלו. יחד עם זאת, בשילוב עם מגוון רחב של אביזרים, כגון R&S HZ-15 בדיקה קרובה לשדה, הוא מספק סט שלם של פתרונות אבחון EMI.
