כיצד להשתמש במולטימטר לבדיקת שבבי זיכרון
ישנם 64 פיני נתונים בלוח האם ובזיכרון, D0-D63. על מנת להגן על פיני הנתונים של הזיכרון, ל-64 פיני הנתונים של D0-D63 נוסף נגד (10 אוהם) ללא ערך התנגדות כדי להגביל את הזרם. השפעה. העיקרון העיקרי של הבוחן הוא להשתמש בתוכנית כדי לבדוק שוב ושוב כל פין סיביות נתונים של שבב הזיכרון כדי לראות אם יש תקלה כלשהי או סיכת סיביות נתונים קצרה, כמו גם את פין השעון ופין הכתובת של השבב.
לכן, כאשר משתמשים במולטימטר לבדיקת השבב, ניתן להשתמש גם בשיטת הבודק כדי למדוד אותו. כל עוד העט האדום מחובר לאדמה (פין 1), העט השחור מודד את ערך ההתנגדות של התנגדות הקתודה, שהוא ערך ההתנגדות של סיבית הנתונים של שבב הזיכרון כדי לקבוע איזה שבב נשבר. , בדרך כלל כל ערך התנגדות סיביות נתונים זהה. אבל זה עדיין לא אינטואיטיבי כמו בוחן. ניתן להשתמש בשיטה זו כדי למדוד את האיכות של שבבי זיכרון DDR.
לפי מדריך ההוראות, הזיכרון הנמדד קיים ב-2A ו-2B, כלומר קבוצה אחת וקבוצה כפולה. אבל ישנם שבבי 8 16-bit, שהם שוות ערך לשתי קבוצות, ושבבי 16 8-bit שווים גם הם לשתי קבוצות.
2A היא הקבוצה הראשונה ו-2B היא הקבוצה השנייה.
במהלך המדידה, פיני הנתונים של כל שבב בכל קבוצה ייבדקו באופן מחזורי. באופן כללי, זה טוב אם הוא לא נשבר לאחר 3 פעמים עד 5 פעמים. שבב טוב הוא: PASS. שבבים גרועים מציגים סיכות סיביות של נתונים גרועות.
1. אם לא ניתן לבצע את הבדיקה לאחר האתחול, יש בדרך כלל: קצר בשבב, קצר בלוח PCB. הפתרון הוא להסיר את השבב ולהחליף אותו בלוח PCB טוב כדי לבדוק אם השבב טוב או לא כדי לראות מה הבעיה.
2. בודק הזיכרון אינו בודק את שבב ה-SPD, ושבב ה-SPD הוא אופציונלי
3. אם אצבע הזהב נצרבה, לא ניתן לבדוק אותה. יש להסיר את השבב ולהחליף אותו על לוח PCB טוב כדי לבדוק אם השבב טוב או רע.
