כיצד להשתמש במולטימטר כדי לאתר את איכות צינורות אפקט השדה?
בשל נוכחות של דיודה דעיכה בין עמודי ה- DS של MOSFETs הנפוצים, ניתן לקבוע את הביצועים של MOSFETs באמצעות רמת הדיודה של מולטימטר דיגיטלי כדי לאתר את ירידת מתח הדיודה בין עמודי DS. שיטת הגילוי המפורטת היא כדלקמן.
סובב את מתג ההילוכים של המולטימטר הדיגיטלי למצב הדיודה, חבר את הבדיקה האדומה לקוטב S ולבחון השחור לקוטב D. בשלב זה, מסך המולטימטר יציג את ערך ירידת המתח של הדיודה בין עמודי ה- DS. ערך ירידת המתח של טרנזיסטורים של אפקט שדה בעל עוצמה גבוהה הוא בדרך כלל בין 0. 4 ו- 0. 8v (בעיקר סביב 0. 6V); לא צריכה להיות ירידת מתח בין הבדיקה השחורה המחוברת לקוטב ה- S, הבדיקה האדומה המחוברת לקוטב D, לבין עמוד ה- G וסיכות אחרות (לדוגמה, בטרנזיסטור של אפקט שדה N-Channel, P-channel-effector-effector צריך להיות ערך ירידה של PORTAGE כאשר הבדיקה האדומה מחוברת למוטש DIGED LODE). נהפוך הוא, זה מצביע על כך שהטרנזיסטור של אפקט השדה נפגע.
טרנזיסטורים של אפקט שדה נפגעים בדרך כלל מהתמוטטות, ובמקרה זה, הסיכות בדרך כלל במצב קצר במעגל. לפיכך, ערך ירידת המתח בין הסיכות צריך להיות גם OV. לאחר כל מדידה של טרנזיסטור של אפקט שדה MOS, יוגש כמות קטנה של מטען על קבלים של צומת GS, תוך הקמת UGS מתח. בעת מדידת שוב, הגשש עשוי שלא לנוע (אם משתמשים במולטימטר דיגיטלי, שגיאת המדידה תהיה גדולה). בשלב זה, קצר מעגל מסופי ה- GS בקצרה.
הנזק של טרנזיסטורים של אפקט שדה נגרם בדרך כלל כתוצאה מהתמוטטות וקצר. בשלב זה, מדידה עם מולטימטר, הסיכות בדרך כלל קשורות זו בזו. לאחר פגום טרנזיסטור אפקט השדה, בדרך כלל אין נזק מובן מאליו. עבור טרנזיסטורים של אפקט שדה פגום בזרם יתר, הוא עשוי להתפוצץ.
