כיצד להכין דגימות מיקרוסקופ אלקטרוני
שיטות ההכנה העיקריות לדגימות תצפית עבור מיקרוסקופ אלקטרונים העברה הן:
1. שיטת הקרנה
בתנאי ואקום, אטומי מתכת כבדה בעלי יכולת פיזור אלקטרונים חזקה משמשים לריסוס פני הדגימה. זה יוצר ניגוד חזק בין הדגימה לאזור הלא מרוסס, והחלק הלא מרוסס הופך להקרנה של הדגימה. על פי ההקרנה, אנו ניתן להבין את הצורה והתלת מימדית של המדגם. בדרך כלל משתמשים בשיטה זו כדי לצפות בחלקיקי דגלים או וירוסים חיידקיים.
2. שיטת צביעה שלילית
מכיוון ששיטה זו צובעת את הרקע של המדגם כדי להדגיש את המדגם, היא נקראת צביעה שלילית. בדרך כלל, המדגם מוקף בחומרים בעלי צפיפות אלקטרונים גבוהה שאינם מראים כל מבנה ואינם מגיבים עם המדגם, כגון מלח הנתרן של חומצה פוספוטונגסטית. במקביל, הצבע מוכנס גם לחלק הפנימי של אובייקט התצפית. בדרך זו, הוא לא יכול רק להציג את הצורה יכולה גם לשקף את המבנה הפנימי של המדגם במידה מסוימת. ניתן לצפות בתאי חיידקים, וירוסים וכו' בשיטה זו.
3. שיטת חתך דק במיוחד
זוהי השיטה הנפוצה ביותר מכיוון שהיא מאפשרת צפייה במבנים עדינים בתוך תאים או דגימות אחרות. בדרך כלל, יש לקבע ולייבש את הדגימה לפי נוהל מסוים, לאחר מכן להטמיע בשרף כתמיכה, ולחתוך לפרוסות דקות במיוחד באמצעות אולטרה-מיקרוטום. מכיוון שניתן לראות רק פרוסות בעובי של 20 עד 100 ננומטר עם מיקרוסקופ אלקטרוני תמסורת, בדגימות חיידקים באופן כללי, יש לחלק תא אחד ל-10 עד 50 חתיכות.
בעת בחירת מיקרוסקופ אלקטרונים, בדוק תחילה האם ליצרן מיקרוסקופ אלקטרונים סורק יש תעודות מלאות; שנית, בדוק את החוזה של יצרן מיקרוסקופ אלקטרוני סורק; שלישית, להבין את השירותים של יצרן מיקרוסקופ אלקטרוני סורק; ושלישית, בדוק את הפרמטרים הטכניים של מיקרוסקופ האלקטרונים הסורק.
בנוסף לבחירה של יצרן מיקרוסקופ אלקטרוני סורק, בעת רכישת מיקרוסקופ אלקטרוני סורק המתאים, עליך לשקול גם את הביצועים והאינדיקטורים הטכניים של מיקרוסקופ האלקטרונים הסורק. בין אם הוא יכול לענות על צורכי הניתוח היומיומי שלנו, אתה גם צריך לקחת בחשבון גורמים שונים בעת הרכישה. פרמטרים טכניים, כדי לעמוד בדרישות הבדיקה והניתוח שלנו.
