במה שונה מיקרוסקופ אלקטרונים ממיקרוסקופ אור במונחים של צפייה?
מיקרוסקופים אופטיים שונים מאוד ממיקרוסקופים אלקטרונים בכך שמקור האור שונה, העדשה שונה, עיקרון ההדמיה שונה, הרזולוציה שונה, עומק השדה שונה ודרך הכנת הדגימה שונה. מיקרוסקופ אופטי מכונה בדרך כלל מיקרוסקופ אור, הוא סוג של אור נראה כמקור ההארה של המיקרוסקופ. מיקרוסקופ אופטי הוא שימוש בעקרונות אופטיים, העין האנושית לא יכולה להבחין בין אובייקטים זעירים הדמיה מוגדלת, כדי שאנשים יוכלו לחלץ מידע על מבנה המיקרו של מכשירים אופטיים. זה נמצא בשימוש נרחב בביולוגיה של התא. מיקרוסקופ אופטי מורכב בדרך כלל מבמה, מערכת תאורה ממקדת, עדשת אובייקטיבית, עינית ומנגנון מיקוד. הבמה משמשת לאחיזה של האובייקט שיש להתבונן בו. ניתן להשתמש בכפתור המיקוד כדי להניע את מנגנון המיקוד, כך שניתן לכוון את הבמה באופן גס או לכוונן עדין כדי להקל על התמונה הברורה של האובייקט הנצפה. התמונה של המיקרוסקופ האופטי לתמונה הפוכה (למעלה ולמטה הפוך, משמאל וימין להחלפה) מיקרוסקופ אלקטרונים היא הלידה של מוצרי טכנולוגיה מתקדמים, ובדרך כלל אנו משתמשים במיקרוסקופ האופטי יש מקום דומה, אבל עם האופטי מיקרוסקופ שונה מאוד. קודם כל, מיקרוסקופ אופטי הוא השימוש במקור אור. מיקרוסקופ האלקטרונים הוא שימוש בקרני אלקטרונים, והשניים יכולים לראות את תוצאות ההבדל, בודדות ולומר שהגדלת ההבדל, כמו התבוננות בתא, מיקרוסקופ האור יכול לראות רק את התא וחלק מהאברון , כגון מיטוכונדריה וכלורופלסטים, אבל יכול לראות רק את נוכחות התאים שלו, לא יכול לראות את המבנה הספציפי של האברון. מיקרוסקופ אלקטרונים, לעומת זאת, יכול לראות את המבנה העדין של האברונים ביתר פירוט, ואפילו מולקולות גדולות כמו חלבונים. מיקרוסקופ אלקטרוני כולל מיקרוסקופ אלקטרוני תמסורת, מיקרוסקופ אלקטרוני סורק, מיקרוסקופ אלקטרוני השתקפות ומיקרוסקופ אלקטרונים פליטה. ביניהם, מיקרוסקופ אלקטרוני סורק נמצא בשימוש נרחב יותר. מיקרוסקופ אלקטרוני סורק בניתוח חומרים ויישומי מחקר הם רחבים מאוד, משמשים בעיקר בניתוח שברים בחומר, ניתוח הרכב מיקרו-אזור, מגוון ניתוחי מורפולוגיה של משטח ציפוי, מדידת עובי שכבה ומורפולוגיה של מיקרו-מבנה וניתוח ננו-חומרים. בשילוב עם דיפרקטומטר רנטגן או ספקטרומטר אלקטרונים, המהווים את המיקרו-פרוב האלקטרוני, המשמש להרכב ניתוח החומר וכן הלאה. מיקרוסקופ סורק אלקטרוני, בקיצור SEC, הוא סוג חדש של מכשיר אופטי אלקטרוני. הוא מורכב ממערכת ואקום, מערכת קרן אלקטרונים ומערכת הדמיה. הוא משתמש באלומת אלקטרונים ממוקדת עדינה כדי לווסת את האותות הפיזיקליים שמתרגשים על ידי סריקת פני השטח של המדגם. האלקטרונים הנכנסים גורמים למשטח הדגימה להתרגש באמצעות אלקטרונים משניים. האלקטרונים המפוזרים האלה בכל נקודה הם שנצפו על ידי המיקרוסקופ. גביש הנצנץ הממוקם ליד הדגימה קולט את האלקטרונים המשניים הללו, המוגברים כדי לווסת את עוצמת אלומת האלקטרונים של ה-CRT, ומשנים את הבהירות במסך ה-CRT. סליל ההטיה של ה-CRT מסונכרן עם אלומת האלקטרונים על פני הדגימה, כך שמסך הפלורסנט של ה-CRT מציג תמונה טופוגרפית של משטח הדגימה. יש לו מאפיינים של הכנת דגימה פשוטה, הגדלה מתכווננת, טווח רחב, רזולוציה גבוהה של התמונה ועומק שדה גדול. ביצועי יישום של מיקרוסקופ אלקטרוני שידור:
1, ניתוח פגמים בקריסטל. כל המבנים שהורסים את מחזור המערך הרגיל נקראים ביחד פגמי קריסטל, כגון מקומות פנויים, נקעים, גבולות גרגרים, משקעים וכן הלאה. מבנים אלו שהורסים את המחזוריות של מטריצת הנקודות יובילו לשינויים בתנאי העקיפה של האזור בו הם נמצאים, מה שיהפוך את תנאי העקיפה של האזור בו נמצאים הפגמים לשונים מתנאי העקיפה של האזור הרגיל, אשר יראה את ההבדל המתאים בין בהיר לחושך במסך הפלורסנט.
2, ניתוח רקמות. בנוסף לפגמים השונים יכולים לייצר דפוסי עקיפה שונים, דרכם ניתן לנתח את המבנה והכיוון של הגביש תוך התבוננות במורפולוגיה של הרקמה.
3, תצפית במקום. באמצעות שלב המדגם המתאים, ניתן לבצע ניסויים באתרו במיקרוסקופ אלקטרוני ההולכה. לדוגמה, השימוש בדגימות מתיחת מתח כדי לצפות בתהליך העיוות והשבר שלהן.
4, מיקרוסקופיה ברזולוציה גבוהה. לשפר את הרזולוציה כדי לראות טוב יותר את המיקרו-מבנה של החומר היה המטרה של אנשים כל הזמן לרדוף. מיקרוסקופ אלקטרונים ברזולוציה גבוהה תוך שימוש בפאזה של אלומת האלקטרונים משתנה ביותר משתי אלומות של הדמיה קוהרנטית, במיקרוסקופ האלקטרונים הרזולוציה גבוהה מספיק בתנאים, ככל שנעשה שימוש יותר בקרני אלקטרונים, כך הרזולוציה של התמונה גבוהה יותר, ואף יכולה להיות משמש לדגימות דקות של הדמיית המבנה האטומי.
