גורמים להרעלת אלקטרודות במכשירי מדידת pH
אלקטרודת מד PH התייחסות מסוג זרימה, היווצרות התעלה החשמלית מסתמכת על האלקטרוליט בתוך הלחץ המיקרו-אוסמוטי באלקטרודה, כך שהאלקטרוליט חודר לתמיסת המדידה. כאשר הלחץ או הריכוז הבינוני גבוהים ותעלת המילוי אינה חלקה, או נוכחות של בועות אוויר ונסיבות אחרות, עלולים לעכב את פליטת האלקטרוליטים, להגביר את העכבה האמצעית של המסלול החשמלי, אם האחורי הבינוני יחלחל לתוך מד ה-ph. אלקטרודה, הזיהום של גשר המלח או אפילו עלול להגיב כימית עם האלקטרוליט או האלקטרודה הפנימית (לדוגמה, AgCl Sulfide → Ag2S) והאלקטרודה מורעלת.
בתווך המחמצן החזק, אובדן חומרים אלקליים (בעיקר קטיונים חד ערכיים) בממברנת הזכוכית הרגישה, הפוגע בשכבת ההידרציה, עלול לגרום להרעלת אלקטרודת מד ה-ph. ניתן לבחור אלקטרודה של מד PH חומצה, תהליך הייצור שלה תוך שימוש באמצעי תהליך מיוחדים (תוספת מיוחדת של ניסוחים יוניים), עמידות מוגברת להרעלת חומצה ממברנת זכוכית, בעוד פוטנציאל האפס של האלקטרודה שלה מתאים ל-pH0=2, כך שהטווח החומצי של הליניאריות מתוקנת.
מד ph אלקטרודה ב-pH2 ~ pH9 בחוץ אין קשר ליניארי טוב, בתמיסה חומצית חזקה קל ליצור מספר רב של יוני מימן hydrated H3 O, כך שמשטח האלקטרודה מד ph של מספר H של הפחתה יחסית ב ערך ph עולה. במדיה אלקלית חזקה Na ישתתף גם בתמיסה של H ושכבת הידרציה אלקטרודה בתהליך חילופי H, וכתוצאה מכך פוטנציאל האלקטרודה מד ph עולה ערך ph נמוך.
