התאמת פליטות מדחום אינפרא אדום
קרינת אינפרא אדום (IR)
קרינת אינפרא אדום היא בכל מקום ואינסוף, וככל שההבדל בטמפרטורה גדול יותר בין אובייקטים, כך הופך להיות תופעת הקרינה בולטת יותר. ואקום יכול להעביר את אנרגיית הקרינה האינפרא אדום שנפלטת על ידי השמש לאורך 93 מיליון מיילים של זמן ומרחב לכדור הארץ, שם היא נספגת על ידינו ומביאה לנו חום. כאשר אנו עומדים מול מקרר המזון בקניון, חום הקרינה האינפרא אדום שנפלט על ידי גופנו נספג על ידי האוכל בקירור, וגורם לנו להרגיש מגניבים מאוד. אפקט הקרינה ברור מאוד בשתי הדוגמאות, ואנחנו יכולים לחוש בבירור את השינויים ולהרגיש את קיומו.
כאשר עלינו לכמת את ההשפעה של קרינת אינפרא אדום, עלינו למדוד את הטמפרטורה של קרינת אינפרא אדום, הדורשת שימוש במדחום אינפרא אדום. חומרים שונים מציגים מאפייני קרינה אינפרא אדום שונים. לפני השימוש במדחום אינפרא אדום לקריאת טמפרטורה, ראשית עלינו להבין את העקרונות הבסיסיים של מדידת קרינת אינפרא אדום ואת מאפייני הקרינה האינפרא אדום הספציפי של החומר המדוד.
פליטות אינפרא אדום=קצב ספיגה+השתקפות+העברה
ללא קשר לסוג הקרינה האינפרא אדום, לאחר שנפלט, הוא ייקלט, ולכן קצב הקליטה=פליטות. מדחום האינפרא אדום קורא את אנרגיית הקרינה האינפרא אדום הנפלטת משטח האובייקט. הרדיומטר האינפרא אדום אינו יכול לקרוא את אנרגיית הקרינה האינפרא אדום שאבדה באוויר. לכן, בעבודת מדידה מעשית, אנו יכולים להתעלם מההעברה. בדרך זו אנו משיגים נוסחה בסיסית למדידת קרינת אינפרא אדום:
Ensissivit
ההשתקפות היא ביחס הפוך לפליטות, ויכולתו של האובייקט חזקה יותר לשקף קרינה אינפרא אדום, כך יכולתו חלשה יותר לפלוט קרינה אינפרא אדום. בדרך כלל, בדיקה חזותית משמשת לקביעת גסות את ההשתקפות של אובייקט. לנחושת חדשה יש רפלקטיביות גבוהה יותר אך פליטות נמוכה יותר ({{0}}. 07-0. 2), לנחושת מחומצן יש רפלקטיביות נמוכה יותר אך פליטות גבוהה יותר (0. (0. 88). הפליטה של הרוב המכריע של המשטחים הצבועים היא גבוהה מאוד (0. 9-0. 95), ואילו ניתן להתעלם מהמשקפת.
עבור הרוב המכריע של דחומטרים אינפרא אדום, מה שצריך להגדיר הוא הפליטה המדורגת של החומר שנבדק, אשר בדרך כלל מוגדרת מראש ל- 0. 95. זה מספיק למדידת חומרים אורגניים או משטחים צבועים.
על ידי התאמת הפליטה של המדחום, ניתן לפצות על הבעיה של אנרגיית קרינה אינפרא אדום מספיק על פני חומרים מסוימים, במיוחד חומרי מתכת. רק כאשר יש מקור קרינה אינפרא אדום בטמפרטורה גבוהה בסמוך לפני השטח של האובייקט שנמדד והוא משקף, יש לקחת בחשבון את השפעת הרפלקטיביות על המדידה.
