השימוש במולטימטר לבדיקת שבבי זיכרון
ישנם 64 פיני נתונים בלוח האם ובזיכרון, D0-D63. על מנת להגן על פיני הנתונים של הזיכרון, נוסף נגד (10 אוהם) עם ערך התנגדות שונה לכל אחד מ-64 פיני הנתונים D0-D63 כדי להגביל את הזרם. השפעה. העיקרון העיקרי של הבוחן הוא להשתמש בתוכנית כדי לבדוק שוב ושוב כל פין סיביות נתונים של שבב הזיכרון כדי לראות אם יש תקלות או סיכות סיביות נתונים קצרות, כמו גם את פין השעון ופין הכתובת של השבב.
לכן, כאשר משתמשים במולטימטר לבדיקת השבב, ניתן להשתמש גם בשיטת הבודק. כל עוד העט האדום מחובר לאדמה (פין 1) והעט השחור מודד את ההתנגדות של נגד הניקוז, ההתנגדות של סיביות הנתונים של שבב הזיכרון היא כדי לקבוע איזה שבב נשבר. , בדרך כלל ערך ההתנגדות של כל סיביות נתונים זהה. אבל זה עדיין לא אינטואיטיבי כמו בוחן. שיטה זו יכולה למדוד את האיכות של שבבי זיכרון DDR.
לפי מדריך ההוראות, הזיכרון הנמדד הוא ב-2A ו-2B, כלומר קבוצה אחת וקבוצה כפולה. אבל לשבב 16-bit יש 8 שבבים, שהם שוות ערך לשתי קבוצות, ולשבב 8-bit יש 16 שבבים, שזה שווה ערך לשתי קבוצות.
2A היא הקבוצה הראשונה ו-2B היא הקבוצה השנייה.
במהלך המדידה, סיכות הנתונים של כל שבב בכל קבוצה נבדקות באופן מחזורי. בדרך כלל, אם הוא נבדק 3-5 פעמים והוא לא שבור, זה טוב. שבב טוב הוא: PASS. שבב רע מראה סיכות נתונים גרועות.
1. אם הבדיקה לא מצליחה להתחיל כשהמחשב מופעל, יש בדרך כלל: קצר במעגל שבב או קצר בלוח PCB. הפתרון הוא להסיר את השבב ולהחליף אותו על לוח PCB טוב כדי לבדוק את איכות השבב כדי לראות מה הבעיה.
2. בודק הזיכרון אינו בודק את שבב ה-SPD. ניתן לבטל את שבב SPD.
3. אם אצבע הזהב נצרבה, לא ניתן לבדוק אותה. יש להסיר את השבב ולהחליף אותו על לוח PCB טוב כדי לבדוק את איכות השבב.
