עקרון העבודה של מיקרוסקופ אלקטרונים שידור
מיקרוסקופ אלקטרוני שידור (TEM) יכול לצפות במבנים עדינים הקטנים מ-{{0}}.2um, שלא ניתן לראות בבירור תחת מיקרוסקופ אופטי. מבנים אלה נקראים מבנים תת-מיקרוסקופיים או מבנים אולטרה. כדי לראות מבנים אלה בבירור, יש צורך לבחור מקור אור באורך גל קצר יותר כדי לשפר את הרזולוציה של המיקרוסקופ. בשנת 1932 המציאה רוסקה מיקרוסקופ אלקטרוני תמסורת באמצעות קרן אלקטרונים כמקור האור. אורך הגל של אלומת האלקטרונים קצר בהרבה מהאור הנראה והאולטרה סגול, ואורך הגל של אלומת האלקטרונים עומד ביחס הפוך לשורש הריבועי של המתח של אלומת האלקטרונים הנפלטת, כלומר ככל שהמתח גבוה יותר כך אורך הגל קצר יותר. נכון לעכשיו, הרזולוציה של TEM יכולה להגיע ל-0.2nm.
עיקרון העבודה של מיקרוסקופ אלקטרוני תמסורת הוא שקרן אלקטרונים הנפלטת על ידי אקדח אלקטרונים עוברת דרך מעבה לאורך הציר האופטי של גוף המראה בתעלת ואקום, ומתכנסת לאלומת אור חדה, בהירה ואחידה דרך מעבה, אשר מוקרן על המדגם בתוך תא המדגם; אלומת האלקטרונים העוברת דרך המדגם נושאת את המידע המבני הפנימי של המדגם. כמות האלקטרונים העוברת בחלק הצפוף של הדגימה קטנה יותר, בעוד שכמות האלקטרונים העוברת בחלק הדליל גדולה יותר; לאחר מיקוד והגדלה ראשונית דרך עדשת האובייקטיב, קרן האלקטרונים נכנסת לעדשת הביניים התחתונה ולמראות ההקרנה הראשונה והשנייה להדמיית הגדלה מקיפה. לבסוף, תמונת האלקטרון המוגדלת מוקרנת על מסך הפלורסנט בחדר התצפית; מסך פלורסנט ממיר תמונות אלקטרוניות לתמונות אור גלוי למשתמשים לצפייה. חלק זה יציג את המבנים והעקרונות העיקריים של כל מערכת בנפרד.
