החלפת אספקת חשמל טכנולוגיית בדיקות תאימות אלקטרומגנטית
(1) מכשירי מדידה
בהתחשב במאפיינים של ספקי כוח של מצב מתג, כולם מורכבים ממעגלים אלקטרוניים. במהלך פעולת מצב קבוע, אספקת החשמל אינה מייצרת ניצוצות, קשתות או פריקות גז, והיא גם לא מייצרת את הפרעות הרעש "לחיצה" הייחודיות של מכשירי משק הבית. נוצרים רק מתח תקופתי, זרם והרמוניות שלהם. לכן מומלץ להשתמש במנתח ספקטרום. במסגרת טווח תדרים הבדיקה שצוין על ידי התקן, מספיק להשתמש במנתח ספקטרום עם טווח תדרים של 10kHz עד 1000MHz ומעלה.
(2) שיטת הגישה של LISN זהה לקודם
(3) אנטנה
השימוש בתא גל אלקטרומגנטי רוחבי של Giecht (תא GTEM) עם צלחות תחתית עליונות ותחתונות ומחיצות פנימיות מתפקדות באופן דומה לאנטנה המקבלת, כך שהאנטנה המקבלת המשמשת בתצורת הבדיקה הסופית מבוטלת.
(4) אתר מבחן
בשל הגודל הקטן של אספקת החשמל של מצב המתג, הוא צפוי להתאים בתא הגלי האלקטרומגנטי האלקטרומגנטי של Giecht לאחרונה (תא GTEM), וטווח התדרים ההפעלה של החדר מספיק גם כדי לענות על צרכי הבדיקה הכללית.
אף על פי שאתר בדיקה זה לא הוכר בתקני CISPRLL ו- GB4824, שיטת תא TEM אומצה כשיטת הבדיקה הסטנדרטית לבדיקת מאפייני הפליטה המוקרנים של רכיבים/מודולים אלקטרוניים/חשמליים בתקן CISPR25 לבדיקת מאפייני הפרעות הרדיו של רכיבים אלקטרוניים/חשמליים אוטומטיים. תא GTEM הוא התפתחות של תא TEM, עם מרחב ניסיוני גדול ואין סתירה לטווח התדרים המשמש, ולכן הוא יושם יותר ויותר.
(5) שיטת בדיקה
לבדיקת קרינה בין 10kHz ל- 1000MHz, תאי GTEM וספקטרומטרים משמשים לבדיקה. כדי להבטיח את יכולת ההחזרה וההשוואה של תוצאות הבדיקה, יש לתקן את המיקום בו מוצב ה- EUT לכל בדיקה.
לגבי סוגיית בדיקת הקיטוב: בשל המיקום הקבוע בין המחיצה בתוך החדר לצלחות התחתון העליון והתחתון, ניתן להשיג אותה רק על ידי סיבוב ה- EUT כך שכמה פרצופים של ה- EUT עומדים בפני המחיצה ברצף.
