מספר תכונות של מיקרוסקופיה אופטית קונפוקלית
ניגודיות גבוהה, רזולוציה גבוהה
במיקרוסקופ אופטי קונבנציונלי, הפרעה מתרחשת עקב אור מוחזר מהחלק הלא-מיקוד, החופף לחלק ההדמיה של נקודת המוקד, וכתוצאה מכך להפחתת ניגודיות התמונה. לעומת זאת, במערכת אופטית קונפוקלית, אור מפוזר מחוץ לנקודת המוקד ובתוך עדשת המטרה מתבטל כמעט לחלוטין, וכתוצאה מכך נוצרות תמונות עם ניגודיות גבוהה מאוד. בנוסף, כוח הרזולוציה של המיקרוסקופ משתפר מכיוון שהאור עובר דרך עדשת האובייקטיב פעמיים, ומחדד את התמונה הנקודתית.
פונקציית לוקליזציה אופטית
במערכת האופטית הקונפוקלית, האור המוחזר מוגן על ידי המיקרו-צמצם בנקודה שאינה נקודת המוקד. לכן, כאשר צופים בדגימה תלת מימדית, התמונה נוצרת כאילו הדגימה נחתכה עם נקודת המוקד, והאפקט הזה נקרא לוקליזציה אופטית, שהיא אחת התכונות של המערכת האופטית הקונפוקלית.
פונקציית זיכרון העברת מיקוד
האור המוחזר מחוץ לנקודת המוקד נחסם על ידי המיקרווויה, כך שכל הנקודות בתמונה שנוצרות על ידי המערכת האופטית הקונפוקלית יכולות להיחשב כחופפות לנקודת המוקד. על ידי הזזת דגימת הסטריאו לכיוון ציר Z (ציר אופטי) וצבירת התמונות בזיכרון, מתקבלת תמונה שבה כל נקודות הדגימה חופפות לנקודת המוקד. הפונקציה של העמקת עומק המיקוד ללא הגבלה בדרך זו נקראת פונקציית הזיכרון הנע.
פונקציית מדידת צורת פני השטח
על ידי הוספת מעגל רישום גובה פני השטח לפונקציית הסטת הפוקוס, ניתן למדוד את צורת פני השטח של מדגם ללא מגע. בעזרת פונקציה זו, ניתן להקליט את הקואורדינטות של ציר Z של ערך הבהירות המקסימלי של כל פיקסל ולקבל מידע על צורת פני השטח של המדגם בהתבסס על מידע זה.
פונקציית מדידת מיקרו-ממד ברמת דיוק גבוהה
ביחידת קליטת האור נעשה שימוש בחיישן הדמיה CCD 1D, המאפשר מדידה דיוק גבוהה מבלי להיות מושפע מהטיית הסריקה של הסורק. בנוסף, פונקציית זיכרון הסטת פוקוס עם עומק פוקוס מתכוונן (העמקה) מאפשרת לבטל שגיאות מדידה הנגרמות מהעברת מיקוד.
