ניתוח כשל אופטי במיקרוסקופ
תמונות כפולות מיקרוסקופיות אינן חופפות. בתצפית עיניות דו-עיניות, לעיתים תהיה תופעה של חוסר יישור תמונה כפול. להופעה של אי יישור תמונה כפול לא אכפת מהפיצוי הבלתי עקבי של אורך שתי חביות העדשה. ההגדלה של שתי העיניות שונה בתכלית, והרעידה במהלך השימוש או ההובלה גורמת לנזק דו-עיני. מיקום הפריזמה מוסט עקב שלוש סיבות. משתי הסיבות הראשונות, הם עברו כיול והתאמתם ביציאה מהמפעל, וניתן לפתור אותם כל עוד שמים לב לשיטה ולהתאמה במהלך השימוש.
הסיבה השלישית למיקרוסקופ שכיחה יותר. בשלב זה, יש לפתוח את המעטפת המשקפת, למקם סרגל צלב על הפלטפורמה ולהכניס עיניות רשת 10X לתוך קנה העדשה השמאלית והימנית לצורך התבוננות, ולתקן את המיקום והזווית של המנסרה המשקפת. . , וכאשר מסובבים את העיניות המשקפת כדי להתבונן בזוויות שונות, מיקומי סימני הצלב נמצאים באותו מיקום של שדה הראייה של העיניות השמאלית והימנית, ולאחר מכן הדק אותן.
כאשר המיקרוסקופ תצפית משקפת, לעיתים יהיו חוסר עקביות בבהירות ובצבע של שדה הראייה השמאלי והימני, אשר ישפיעו על התצפית. הדבר נגרם על ידי הנזק של סרט הפיצול של פריזמת פיצול הקרן. בשלב זה, יש להסיר את פריזמת פיצול הקרן ולשלוח אותה ליצרן המיקרוסקופ לציפוי מחדש לפני ההרכבה והשימוש. .
ההבדל בין היישום של מיקרוסקופ מטאלוגרפי זקוף למיקרוסקופ מטאלוגרפי הפוך
מיקרוסקופ מתכות הפוך, מכיוון שמשטח התצפית של הדגימה חופף עם פני השטח של ספסל העבודה כלפי מטה, עדשת אובייקטיבי התצפית ממוקמת מתחת לספסל העבודה ונצפה כלפי מעלה, צורת תצפית זו אינה מוגבלת בגובה הדגימה, כל עוד אחת משטח התצפית שטוח בעת הכנת המדגם. לכן, הוא נמצא בשימוש נרחב במעבדות מפעלים, מוסדות מחקר מדעיים ומכללות. לבסיס המיקרוסקופ המטאלוגרפי ההפוך יש שטח תומך גדול, מרכז כובד נמוך, פעולה יציבה ואמינה, והעינית והמשטח התומך נטויים ב-45 מעלות, מה שהופך את התצפית לנוחה.
למיקרוסקופ המטאלוגרפי הזקוף יש את אותן פונקציות בסיסיות כמו למיקרוסקופ המטאלוגרפי ההפוך, למעט ניתוח וזיהוי של דגימות מתכת בגובה של 20-30 מ"מ, מכיוון שהוא תואם את ההרגלים היומיומיים של אנשים, הוא נמצא בשימוש נרחב יותר בשקופות , חומר שקוף או אטום. המיקרוסקופ המטלורגי הזקוף יוצר תמונה חיובית במהלך התצפית, דבר המביא נוחות רבה לצפייה וזיהוי של המשתמש. בנוסף לניתוח וזיהוי של דגימות מתכת בגובה של 20-30 מ"מ, מטרות תצפית הגדולות מ-3 מיקרון ופחות מ-20 מיקרון, כגון cermets, שבבים אלקטרוניים, מעגלים מודפסים, מצעי LCD, סרטים, סיבים, חפצים גרגירים, ציפויים וחומרים אחרים על פני השטח המבנה והעקבות יכולים להיות בעלי אפקט הדמיה טוב.
